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簡要描述：微波無源器件高低溫試驗箱主要用于模擬高溫、低溫及溫度循環(huán)等惡劣環(huán)境條件，對濾波器、雙工器、耦合器、功分器、隔離器等各類微波無源器件開展環(huán)境適應(yīng)性與可靠性測試。通過控制箱體內(nèi)溫度變化，可在不同溫域下實時檢測器件的插入損耗、駐波比、相位漂移、中心頻率偏移及無源互調(diào)等關(guān)鍵電性能指標(biāo)，驗證其在高低溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與參數(shù)一致性。
產(chǎn)品型號：AP-HX-150A 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2026-04-15訪 問 量：222產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 愛佩科技/APKJ | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,能源,制藥/生物制藥,綜合 |
微波無源器件高低溫試驗箱主要用于模擬高溫、低溫及溫度循環(huán)等惡劣環(huán)境條件，對濾波器、雙工器、耦合器、功分器、隔離器等各類微波無源器件開展環(huán)境適應(yīng)性與可靠性測試。通過控制箱體內(nèi)溫度變化，可在不同溫域下實時檢測器件的插入損耗、駐波比、相位漂移、中心頻率偏移及無源互調(diào)等關(guān)鍵電性能指標(biāo)，驗證其在高低溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與參數(shù)一致性。
一、核心用途
性能驗證：測試高溫 / 低溫下插入損耗、駐波比、相位漂移、無源互調(diào)（PIM）等關(guān)鍵指標(biāo)。
可靠性篩選：通過溫度循環(huán)暴露材料缺陷、焊接失效、結(jié)構(gòu)變形等隱患。
標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)：滿足 GJB 150、GB/T 2423.1/2、IEC 60068 等* / 通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
二、關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)（微波專用）
內(nèi)尺寸：寬1.2米高1米深1.1米 可按需定制
溫度范圍：可達(dá) -70℃ ~ +150℃。
控制精度：溫度波動度 ≤±0.5℃，均勻度 ≤±2℃。
溫變速率：常規(guī) 3~5℃/min；快速溫變 10~15℃/min。
箱體材質(zhì)：內(nèi)箱 SUS304不銹鋼，聚酰亞胺 / 石英玻璃透波視窗。
三、結(jié)構(gòu)與測試特點
低無源互調(diào)（PIM）設(shè)計：箱體無毛刺、無松動件，采用銅鍍銀或不銹鋼結(jié)構(gòu)，避免測試干擾。
獨立測試腔體：屏蔽設(shè)計，防止外部電磁干擾。
多路射頻端口：支持多器件并行測試，提高效率。
在線測試功能：可連接矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA），實時監(jiān)測 S 參數(shù)變化。
四、典型測試流程
預(yù)處理：樣品烘干（105℃，2h），防靜電處理。
裝夾：固定于箱內(nèi)，連接射頻線纜，密封艙口。
編程：設(shè)定溫度點、保溫時間、循環(huán)次數(shù)。
測試：高低溫保溫、溫度循環(huán)、在線采集數(shù)據(jù)。
分析：對比數(shù)據(jù)，評估性能漂移與失效模式。
微波無源器件高低溫試驗箱同時，該設(shè)備能夠通過溫度應(yīng)力暴露器件在材料、結(jié)構(gòu)、焊接及裝配工藝中存在的缺陷，有效篩選出因熱脹冷縮、介質(zhì)老化或接觸不良等問題引發(fā)的早期失效，為產(chǎn)品研發(fā)驗證、出廠質(zhì)量檢驗及型式認(rèn)證提供可靠測試依據(jù)，滿足通信、*、航天等領(lǐng)域?qū)ξ⒉ㄆ骷?yán)苛的環(huán)境可靠性要求。
產(chǎn)品咨詢
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